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高速短寸測定装置

Oct,01,2011

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高速短寸測定装置

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高速短寸測定装置

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高速短寸測定装置株式会社 オムロン オムロンは2008年ファインテック・ジャパンにて高速短寸測定装置の展示を行いました。同製品は、LCDアレイ基板の配線やトランジスタ部の線幅、層ずれを検査する製品として開発されました。 同製品は高速測定を実現しているため、リードタイム短縮、立上げ期間短縮を可能にします。膜厚計測機能をオプションとして付加することができ、2.5μmという微小なスポット径の膜厚測定が可能です。線幅測定と膜厚測定の一体により、コストとフットプリントの削減効果が見込めます。 (本文はdiginfo.tvより提供)

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